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TomoScope XS FOV在探测器的视场内用X射线断层扫描进行测量，用于制造和测量室，灵活和易于使用，用于工业计算机断层扫描的快速测量。三维测量直接在探测器的视场内进行，不需要移动轴，可以自动化。几个小工件，如盖子或镙丝，可以用合适的夹具一起测量，TomoScope XS FOV是在大量生产的塑料工件的生产过程中进行测量的理想选择